ADC(Analog-to-Digital Converter)承擔(dān)著將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)的任務(wù)，是數(shù)字采集設(shè)備的關(guān)鍵部分。ADC位數(shù)和量程設(shè)置直接影響采集的精度。

1.ADC位數(shù)

ADC的1位可以表示0、1兩個(gè)數(shù)值，N位ADC可表示2^N個(gè)數(shù)值，在對(duì)固定的量程進(jìn)行采樣和數(shù)字化時(shí)，更多的位數(shù)可以獲得更高的量化精度。

?2.ADC位數(shù)對(duì)量化誤差的影響

在量程一致的情況下ADC位數(shù)越高，采樣結(jié)果的量化誤差就越小，如圖所示：

3.量程對(duì)量化誤差的影響

在同樣的ADC位數(shù)和量程情況下，量程越接近被測(cè)信號(hào)的范圍，誤差越小，如圖所示:

但是如果量程設(shè)置過小又會(huì)產(chǎn)生截波

?結(jié)論

ADC位數(shù)和量程設(shè)置會(huì)影響采集的量化誤差，當(dāng)量程可以覆蓋被測(cè)信號(hào)時(shí)采集到的數(shù)字信號(hào)通常小于實(shí)際信號(hào)這種現(xiàn)象叫做**ADC欠載**，而量程設(shè)置過小時(shí)產(chǎn)生的截波現(xiàn)象也叫**ADC過載**。因此在使用時(shí)應(yīng)根據(jù)被測(cè)情況合理選擇測(cè)試設(shè)備和量程以滿足測(cè)量精度要求。